เมื่อส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ซับซ้อนทำงานผิดปกติ สิ่งสำคัญคือต้องเข้าใจว่าสิ่งใดผิดพลาดอย่างแน่นอน และที่สำคัญกว่านั้นคือเพราะเหตุใด การควบคุมคุณภาพทั้งสาขามุ่งไปที่การลดอัตราข้อผิดพลาดในการผลิต ชิปที่ผิดพลาดไม่เพียงแต่เสียเงินโดยตรงแต่ยังสามารถนำไปสู่การฟ้องร้องที่ไม่คาดฝันได้อีกด้วย failure analysis เพื่อให้ได้แนวคิดที่ชัดเจนเกี่ยวกับปัญหา ส่วนประกอบที่ทำงานผิดปกติจะถูกส่งไปยังห้องปฏิบัติการวิเคราะห์ความล้มเหลว
ห้องปฏิบัติการ failure analysis เป็นสถานที่ที่ทุ่มเท
เพื่อค้นหาสาเหตุที่ชิปบางตัวมีข้อบกพร่อง หลายปีที่ผ่านมา สาขาวิชาวิศวกรรมนิติวิทยาศาสตร์ได้พัฒนาจนถึงจุดที่มีวิธีการเจาะลึกถึงต้นตอของปัญหาอย่างเป็นระบบ ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์ความล้มเหลวทางอิเล็กทรอนิกส์ แม้ว่าจะมีเทคนิคการวิเคราะห์ความล้มเหลวมากมายในการค้นหาสาเหตุที่ชิปตัวใดตัวหนึ่งชำรุด failure analysis ไม่ได้เริ่มด้วยเทคนิคเหล่านี้ failure analysis ขั้นตอนแรกคือค้นหาข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับข้อบกพร่องโดยการวิเคราะห์รายงานข้อผิดพลาด อัตราข้อผิดพลาด ประวัติความล้มเหลว และสถานการณ์โดยรอบข้อผิดพลาด
แล็บสามารถดึงข้อมูลสำคัญเกี่ยวกับข้อผิดพลาดซึ่งสามารถระบุแหล่งที่มาและประเภทของปัญหาที่เกิดขึ้นได้ ดังนั้นก่อนที่ห้องปฏิบัติการจะวางชิปไว้ใต้กล้องจุลทรรศน์ ก็มีแนวคิดทั่วไปว่าต้องการอะไร ทำให้ง่ายต่อการเลือกเทคนิคการวิเคราะห์ที่ถูกต้อง failure analysis แต่ละประเภทเผยให้เห็นข้อผิดพลาดที่แตกต่างกัน เช่น ไม่สามารถตรวจพบข้อบกพร่องของความเครียดได้โดยใช้เทคนิคไมโครเทอร์โมกราฟฟี แนวคิดคือการประหยัดเวลา แรงกาย และเงินให้มากที่สุดเท่าที่จะเป็นไปได้ และเพิ่มประสิทธิภาพของเทคนิคการตรวจจับไปพร้อม ๆ กัน
failure analysis ที่เข้าใจวิธีการทำงานของชิปอย่างแท้จริง
ความเชี่ยวชาญนี้จำเป็นสำหรับเทคนิคการวิเคราะห์ความล้มเหลวหลายอย่าง เช่น Fault Tree Analysis (FTA) ที่พัฒนาโดย เมื่อเราดูข้อมูลที่มีอยู่ทั้งหมดแล้ว เราจะเริ่มใช้เทคนิคการวิเคราะห์ทางวิทยาศาสตร์ซึ่งปกติแล้วจะเป็นห้องปฏิบัติการ failure analysis มีชื่อเสียงมาจาก ห้องปฏิบัติการดังกล่าวยังใช้ความเชี่ยวชาญของตนกับสถานการณ์ก่อนหน้านี้เพื่อให้คำแนะนำว่าเหตุใดจึงเกิดข้อผิดพลาดนั้นขึ้น และสิ่งที่สามารถทำได้เพื่อป้องกันข้อผิดพลาดนั้น บางครั้งมันก็เกิดจากความผิดพลาดของมนุษย์ในบางขั้นตอนของการผลิต
กระบวนการนี้จึงดูเหมือนงานนักสืบมาก failure analysis engineer ในการผลิตชิปจะไม่มีความหมายหากไม่มีห้องปฏิบัติการวิเคราะห์ความล้มเหลวที่ดีคอยสำรองข้อมูล ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์ความล้มเหลวทำหน้าที่หลักในการพิจารณาว่าเหตุใดส่วนประกอบบางอย่างของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์จึงทำงานผิดปกติ แม้กระทั่งก่อนที่ส่วนประกอบ เช่น ชิป จะอยู่ใต้กล้องจุลทรรศน์ รายงานข้อผิดพลาด อัตราข้อผิดพลาด ประวัติความล้มเหลว และสถานการณ์โดยรอบข้อผิดพลาดจะถูกตรวจสอบ เมื่อข้อมูลนั้นได้รับการพิจารณาแล้วจึงนำเทคนิคการวิเคราะห์ทางวิทยาศาสตร์มาใช้กับชิป
